🔬 SEM晶粒智能识别与分析系统

精准晶界分割 · 一键导出DXF · 全自动尺寸/计数统计

本工具自动处理扫描电镜（SEM）图像，实现晶粒边界的亚像素级识别。支持将晶粒轮廓直接导出为DXF矢量文件（兼容AutoCAD、COMSOL、ANSYS等仿真软件），同时内置晶粒尺寸分析与计数统计模块，所有结果均可一键导出，助力材料微观结构定量表征与多物理场仿真建模。请从本站协同文件处理模块进入！

📌 核心功能

1️⃣ 晶粒识别 & 导出仿真DXF文件

自动识别SEM图像中的晶粒边界，提取每个晶粒的闭合多边形轮廓，生成标准DXF格式文件。该文件可直接导入有限元/相场仿真软件，用于构建真实微观结构的几何模型，避免手动勾画晶界的繁琐工作。

※ 实际使用时将生成包含所有晶粒边界的.dxf文件，支持图层分离。

2️⃣ 晶粒尺寸识别与统计分析

基于识别的晶粒区域，自动计算每个晶粒的等效直径、面积、周长、长宽比等关键参数。生成尺寸分布直方图数据，并统计平均粒径、分布区间、标准差等指标。支持导出完整尺寸报告（TXT格式）。

示例统计指标： 平均晶粒尺寸 2.34 μm | 最小粒径 0.78 μm | 最大粒径 5.62 μm | 晶粒总数 187

3️⃣ 晶粒计数识别与结果导出

txt识别.exe

自动统计图像内晶粒总数，并可按照尺寸范围（细晶、中晶、粗晶）进行分类计数。计数结果以表格形式展示，支持导出为结构化数据文件，便于后续材料性能关联分析。

计数分布示意：
  粒径 ≤1.0 μm : 23 个
  1.0–3.0 μm : 98 个
  3.0–5.0 μm : 54 个
  ＞5.0 μm : 12 个

📢 说明

本页面为功能与流程介绍，展示SEM晶粒识别、DXF导出、晶粒尺寸识别及晶粒计数导出的核心能力。实际使用中可通过集成工具直接处理图像并获取上述输出文件，无需手动干预，大幅提升材料表征效率。